国家标准《粒度分析 图像分析法(第1部分)静态图像分析法》（GBT 21649.1-2024）

9月29日，由北京市科学技术研究院分析测试研究所（以下简称“分析测试所”）主持制订的国家标准《粒度分析 图像分析法(第1部分):静态图像分析法》（GB/T 21649.1-2024）由国家标准化管理委员会批准发布，并将于2025年4月1日实施。

粒度分析作为微米纳米研究领域的基础性工具，颗粒尺寸和颗粒形状表征在优化材料或产品性能、保障产品质量等方面发挥着至关重要的作用，并为新材料和技术的研发提供关键信息，能够更好的理解和控制材料的特性，助推技术进步和创新。图像分析法作为一种可直接溯源至SI单位的粒度测量方法，是电子显微分析、衍射分析及动态图像分析等各类粒度测量方法的基准，也是各类粒度国家标准物质定值的手段。

该标准对通过光学或电子检测系统获取的数字图像的质量和分析方法进行了严格的定义，对仪器校准和溯源的方法进行规范，确保了所获得纳米/微米颗粒的尺寸和形状信息准确有效。该标准的发布实施，将为纳米材料结构的精准测量提供有力保障，对提升我国纳米材料分析的整体质量和核心竞争力具有重要的推动作用。

该成果获得了北京市科学技术研究院创新平台项目“生物降解塑料绿色评价与微塑料分析平台建设”项目的支持，为分析测试所在微纳米塑料颗粒粒形分析提供了有力的技术保障。同时，也为分析测试所参与制订的英文版标准《颗粒 粒度分析 彩色图像分析法》提供了强有力的技术支撑。

此外，今年分析测试所粉体性能工作组作为主要参与单位制订的3项国家标准均已发布，分别为《纳米技术 动态光散射法粒度分析仪技术要求》（GB/T 44223-2024）、《纳米技术 纳米多孔材料储氢量测定 气体吸附法》（GB/T 44007-2024）、《纳米技术 混合粉尘制造环境空气中纳米级炭黑和无定形二氧化硅浓度的测量方法》（GB/Z 43998-2024）。分析测试所将继续在纳米科技基础研究方向为国家标准化工作做出贡献。

(北京市科学技术研究院分析测试研究所 文/图)