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分析测试研究所——高光通量X射线吸收精细结构谱仪

发布时间:2026年03月25日 16:26

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高光通量X射线吸收精细结构谱仪

性能参数

序号

规格名称

规格参数

1

能量范围

5 ~ 20 keV

2

K边可测元素

Ti V Cr Mn Fe Co Ni Cu Zn Ga Ge As

3

L3边可测元素

Hf Ta W Re Bi Ir Pt Au La Ce Pr Nd Sm Eu Gd   Tb Dy Ho Er Tm Yb

4

单次扫描范围

>600 eV (7~9 keV

5

能量分辨率

XANES:≤1.5eVEXAFS:≤10eV

6

布拉格角范围

85°~ 55°

7

光通量

≥2,000,000 photons/s (7~9 keV≥1600 W光源)

8

检测器

SDD探测器,有效探测面积150 mm2,可实现实时光子计数

9

原位池

电化学原位配套装置,气固相原位配套装置,二次电池原位配套装置

 

高光通量X射线吸收精细结构谱仪(XAFS),可以实现对材料的精细结构表征,深入研究中心原子与邻近原子的关系,获得元素价态、配位键长、配位数、无序度等信息。可以测试单原子/纳米催化剂、进行配体识别、测试非晶体无机化合物,广泛用于单原子材料、能源材料、生物质催化、电池、电催化、光催化、合金、稀土材料、放射性材料等众多研究领域,是研究材料微观结构及化学反应机理重要手段。

服务领域:环境领域、材料领域、制药领域

所属单位:北科院分析测试研究所

联系人:刘向文

联系方式:010-58717278

仪器所在地:北京市海淀区丰贤中路7号孵化楼B座四层

共享服务价格:面议