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分析测试研究所——场发射透射电镜

发布时间:2026年03月25日 16:21

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场发射透射电镜

序号

规格名称

规格参数

1

电子枪类型

热场发射枪

2

加速电压

80–200 kV

3

TEM点分辨率

0.23 nm

4

TEM线分辨率

0.1 nm

5

STEM分辨率

0.16 nm

6

放大倍率

MAG模式2000–2M倍;

STEM模式100–150M

  

场发射透射电镜JEOL-F200配有Gatan相机,JED-2300T超级能谱仪,原位进样系统,背散射探头:主要用于材料的微结构和形貌表征,包括材料的内部结构、暴露晶面、尺度分布、组成分布等。原位进样系统,可以测试原位不同温度、气氛、压力、液体环境下的材料透射电镜图片和视频等。

 

服务领域:新材料领域

所属单位:北科院分析测试研究所

联系人:刘向文

联系方式:18701373491

仪器所在地:北京市海淀区丰贤中路7号院 4号楼

共享服务价格:面议