首页 > 科技服务> 科研设施与仪器开放共享

分析测试研究所——X射线光电子能谱仪

发布时间:2026年03月25日 16:15

1.jpg

X射线光电子能谱仪

性能参数

序号

规格名称

规格参数

1

仪器的分辨率及灵敏度

Ag 3d5/2峰强度@半高全宽,最佳测试条件下)大束斑条件下的能量分辨率和灵敏度:2.5 Mcps@0.6eV10.0 Mcps@1.0eV;小束斑(Φ15~20   mm)条件下的能量分辨率和灵敏度:30kcps@0.6eV300kcps@1.0eV

2

真空系统

分析室极限真空度应≤5×10-9 mbar

3

能量分析器

双聚焦半球型能量分析器能量扫描范围:≥0-1500 eV,最小能量步长≤3   meV;通过能设置范围:≥1-400 eV;通过能调节模式:连续可调,最小调节步长≤1   eV;检测器:配置128通道微通道板探测器或更优检测器

4

X射线光源(单色化Al   Kα X射线源,电子束具备聚焦功能)

光源最大功率:≥120W;最小聚焦获得束斑(非成像模式模拟)≤10   µm

5

自动化荷电中和系统

绝缘体分析能力(PETO-C=OC 1s峰半高全宽@C-C/C-HC 1s峰强度):≥15kcps@0.82eV

6

紫外光电子能谱仪(He紫外光源)能量分辨率

Ag费米边,能量分辨率应≤120   meV;灵敏度:能量分辨率小于120meV时,灵敏度(Ag4d≥2,000,000   cps

7

反射电子能量损失谱能量分辨率和灵敏度

对于干净的银样品,能量分辨率≤0.5 eV时,灵敏度应≥1000   kcps

 

    X 射线光电子能谱仪(XPS)系统,针对材料表面几个原子层(1~10纳米厚)的化学元素组成、价态等综合分析与表征,可进行离子刻蚀、深度剖析,实现全自动、高通量的表面分析。 集成 XPS与紫外光电子能谱 (UPS)、反射电子能量损失 (REELS),适用于各种固体材料、粉末材料、及薄膜材料。

服务领域:材料、有机化学、农业、石油化工、机械工程、航天航空、电子、生物等领域

所属单位:北科院分析测试研究所

联系人:黄雯雯

联系方式:15201489793

仪器所在地:北京市海淀区丰贤中路7号孵化楼B座四层

共享服务价格:面议