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  • 北京自动测试技术研究所
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  • 北京自动测试技术研究所隶属于北京市科学技术研究院,成立于1984年,是经国家科委批准成立的国内专门从事集成电路测试技术研究、测试系统开发及销售和集成电路测试服务的专业研究所,是国家集成电路测试技术科技攻关项目的牵头单位。北京自动测试技术研究所自2002年以来,先后被政府有关主管部门认定为“集成电路产业孵化基地”、“集成电路测试技术研究中心”、“中关村集成电路测试中心”、“北京市科技研究开发机构”、“北京集成电路测试科技条件平台”等,是北京市科委第一批认定的市级重点实验室以及是中国电子测量仪器行业协会副理事长单位。

       北京自动测试技术研究所从国家“六五”科技攻关起,先后承担了多项国家重点科技攻关项目和北京市重大科研项目,取得了一系列领先于国内并达到国际水平的科技成果,建立了国家大型集成电路测试程序库。特别是近年来在CPU、SOC、FPGA、网络芯片、数字电视芯片、信息安全芯片、高速USB接口芯片等高端芯片的测试方法和测试关键技术研究取得了突破性进展,积累了丰富的经验,实现了200MHz高可靠链接与测试适配器的设计,开发出了多款高端芯片的测试程序及测试包,使得国家集成电路测试程序库得到了不断的扩充与完善,目前库中有几十大类3000多个典型品种的测试程序,涵盖了SOC、CPU、DSP、MCU、FPGA、存储器芯片、非接触式智能卡芯片等。这些关键技术与测试程序已成功应用于产业化测试,满足了我国集成电路产业发展需求。

    近年来,北京自动测试技术研究所为配合我国集成电路产业的发展,把研发目标与产业和市场紧密结合,在政府有关部门的强力支持下,在集成电路测试技术的基础研究、专项测试技术研究和测试方法研究方面都取得了突破。尤其在测试系统体系结构创新、高速高精度测试模块研发、并行测试技术研究、测试与设计的无缝链接技术研究、DFT测试技术研究、自动测试生成技术以及集成电路自动测试系统研发方面都占据着国内领先地位,自主研发的集成电路测试系统全面的覆盖了数字测试、模拟测试、数模混合信号测试、存储器测试和半导体分立器件测试,适时填补了我国在大型、高速测试系统研发的空白。测试系统规模、最高测试速率、测试管脚数、系统定时等多项指标均达到国内领先水平,是目前我国研制的最高水平的测试系统。先后获得省部级科技进步奖十余项,这些成果的取得进一步确立了北京自动测试技术研究所在国内集成电路测试技术领域的领先地位。

    北京自动测试技术研究所经过近三十年的发展,已建立起一支集成电路测试领域研发精英团队,在国内集成电路测试系统研发方面一直处于领先地位,自主研发的“泰思特”品牌集成电路测试系统占具了国产测试设备的大部分市场,具有装备国内集成电路成套检测生产线的产业化能力,形成了以自测所为核心、覆盖全国产业发达地区、服务于集成电路测试行业的产业集群,在国内集成电路测试业发挥着举足轻重的作用,为我国集成电路测试技术的提升和产业化发展做出了重大贡献。

     

    主要产品及服务:

    1、系列数字集成电路测试系统

    2、系列模拟集成电路测试系统

    3、系列数/模混合信号集成电路测试系统

    4、系列半导体器件测试系统

    5、6吋、8吋系列探针测试台

    6、集成电路测试服务

    7、可靠性试验服务

    8、电路板在线检测服务